產(chǎn)品展示
QUALITY PRODUCTS SHOW
2025
12-12XRF鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)方法和維護(hù)保養(yǎng)要點(diǎn)
XRF鍍層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)方法包括準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)樣板、檢查測(cè)厚儀、放置標(biāo)準(zhǔn)樣板、進(jìn)行測(cè)量和校準(zhǔn)以及記錄結(jié)果等步驟。而測(cè)厚儀的維護(hù)保養(yǎng)則包括定期清潔、避免撞擊和震動(dòng)、正確存...2025
12-8光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的工作原理和應(yīng)用領(lǐng)域
光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x（是一種非接觸式、精確測(cè)量薄膜厚度的儀器，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電、涂層、玻璃、金屬等領(lǐng)域的薄膜材料檢測(cè)。與傳統(tǒng)的機(jī)械測(cè)量方法相比，光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x具...2025
11-21自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀通常具有以下自動(dòng)化特性
自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀是一種用于非接觸、非破壞性地測(cè)量薄膜材料厚度的儀器。它通常應(yīng)用于電子、光學(xué)、半導(dǎo)體、薄膜涂層、太陽(yáng)能電池、光學(xué)鏡片等領(lǐng)域，特別是在薄膜生產(chǎn)和研...2025
11-19四探針電阻率測(cè)量?jī)x是一種常用于測(cè)量材料電阻率的儀器
四探針電阻率測(cè)量?jī)x是一種常用于測(cè)量材料電阻率的儀器，特別適用于半導(dǎo)體、金屬、薄膜等材料的電阻特性分析。它通過(guò)四個(gè)探針同時(shí)接觸到樣品表面，利用其測(cè)量電流和電壓來(lái)計(jì)...2025
11-242025
10-24Filmetircs光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x主要由以下幾個(gè)組成部件構(gòu)成
Filmetircs光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是一種用于測(cè)量薄膜厚度和光學(xué)特性的精密儀器，通過(guò)分析材料對(duì)不同波長(zhǎng)光的反射、透射和吸收特性，可以確定薄膜的厚度、折射率等參數(shù)。...2025
9-192025
9-2UNICORN × KLA聯(lián)合特裝展臺(tái)｜CIOE展臺(tái)7號(hào)館7B13，現(xiàn)場(chǎng)抽愛(ài)馬仕禮盒！
第二十六屆中國(guó)國(guó)際光電博覽會(huì)（CIOE）將于2025年9月10-12日在深圳國(guó)際會(huì)展中心舉辦。聚焦信息通信、精密光學(xué)、攝像頭技術(shù)及應(yīng)用、激光制造、紅外紫外、智能...
